Каталог "Книги"
| Книги
Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур
А. Раков
1
Детайли
- Местоиздаване
- Москва
- Година на издаване
- 1975
- Страници
- 176 с. : с ил.
- Класификационен индекс
-
УДК Значение УД 781 УД 781 -> Без текст, от системата, от която се прехвърля
Допълнителна информация
- Забележка
- Библиогр. с. 167-173
- Системен №
- 52718
- Инвентаризация
-
Статус Брой Централна лаборатория по агрофизика (1) 1