Каталог "Книги"
| Книги
Надежность полупроводниковых устройств
Под общ. ред.: Пер. Маслова
1
Детайли
- Местоиздаване
- Москва
- Година на издаване
- 1963
- Страници
- 427 с. : с ил.
- Класификационен индекс
-
УДК Значение УД 781 УД 781 -> Без текст, от системата, от която се прехвърля
Допълнителна информация
- Забележка
- Библиогр. след всяка гл. Загл. с. и на англ. ез.
- Системен №
- 40786